ДЭБА́Я—ШЭ́РЭРА МЕ́ТАД,

метад даследаванняў полікрышталічных матэрыялаў з дапамогай дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў. Прапанаваны П.Дэбаем і швейц. фізікам П.​Шэрэрам (1916). Выкарыстоўваецца ў рэнтгенаўскім структурным аналізе для вымярэнняў параметраў элементарнай ячэйкі крышталёў, фазавага аналізу полікрышт. матэрыялаў і інш.

У Д.—Ш.м. тонкі пучок монахраматычных рэнтгенаўскіх прамянёў накіроўваецца на ўзор, які рассейвае выпрамяненне ўздоўж утваральных сувосевых конусаў (рассеянне адбываецца на крышталіках, для якіх выконваецца Брэга—Вульфа ўмова). Пры раўнамерным вярчэнні ўзору вакол восі, перпендыкулярнай першаснаму пучку выпрамянення, усе крышталікі ўводзяцца ў адбівальнае становішча. Рассеянае выпрамяненне рэгіструецца на фотаплёнцы ў цыліндрычнай (дэбаеўскай) рэнтгенаўскай камеры або з дапамогай рэнтгенаўскага дыфрактометра.

М.​М.​Аляхновіч.

Схема здымка рэнтгенаграмы паводле Дэбая—Шэрэра метаду: 1 — рэнтгенаўская трубка; 2 — монахраматычнае рэнтгенаўскае выпрамяненне; 3 — дыяфрагма; 4 — крышталь; 5 — фотаплёнка; 6 — след дыфрагаваных прамянёў; O — след прамянёў, што прайшлі крышталь навылёт.

т. 6, с. 320

Беларуская Энцыклапедыя (1996—2004, правапіс да 2008 г., часткова)